Centre de Documentation du Campus Mons
Le centre de documentation vous accueille du lundi au jeudi de 8 h à 18 h et le vendredi de 8 h à 13 h30.
A bientôt !
Bienvenue sur le catalogue du centre de documentation du Campus Mons
HELHa - Artistique - Économique - Pédagogique - Social - Technique
HELHa - Artistique - Économique - Pédagogique - Social - Technique
Catégories
Ajouter le résultat dans votre panier Affiner la recherche
Bases et techniques avancées en traitement du signal : Du capteur à la mesure / Patrick Nayman
Titre : Bases et techniques avancées en traitement du signal : Du capteur à la mesure Type de document : texte imprimé Auteurs : Patrick Nayman Editeur : Paris : Ellipses Année de publication : 2017 Collection : Formations & Techniques Importance : 666 p. Présentation : schémas Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-2-340-01659-0 Langues : Français (fre) Catégories : Bruit
Calorimètres
Échantillonnage
Photomultiplicateurs
Traitement du signal -- Techniques numériquesMots-clés : Temps morts Index. décimale : 621.391 Traitement du signal et acquisition de données Note de contenu : Bibliographie p. 661-662. - Index p. 663-666 Bases et techniques avancées en traitement du signal : Du capteur à la mesure [texte imprimé] / Patrick Nayman . - Paris : Ellipses, 2017 . - 666 p. : schémas ; 24 cm. - (Formations & Techniques) .
ISBN : 978-2-340-01659-0
Langues : Français (fre)
Catégories : Bruit
Calorimètres
Échantillonnage
Photomultiplicateurs
Traitement du signal -- Techniques numériquesMots-clés : Temps morts Index. décimale : 621.391 Traitement du signal et acquisition de données Note de contenu : Bibliographie p. 661-662. - Index p. 663-666 Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité L42347 621.391 NAY Livre HELHA Campus Mons Livres Disponible Chimie analytique, analyse chimique et chimiométrie : Concepts, démarche et méthodes / Christian Ducauze
Titre : Chimie analytique, analyse chimique et chimiométrie : Concepts, démarche et méthodes Type de document : texte imprimé Auteurs : Christian Ducauze, Auteur Editeur : Paris : Lavoisier Année de publication : 2014 Importance : XVIII, 366 p. Présentation : schémas Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-2-7430-1573-2 Note générale : Titre de couverture : Ingénieurs, Masters Langues : Français (fre) Catégories : Analyse quantitative (chimie)
Chimie analytique
Échantillonnage
Plan d'expérienceIndex. décimale : 543 Chimie analytique Note de contenu : Index et bibliographie Chimie analytique, analyse chimique et chimiométrie : Concepts, démarche et méthodes [texte imprimé] / Christian Ducauze, Auteur . - Paris : Lavoisier, 2014 . - XVIII, 366 p. : schémas ; 24 cm.
ISBN : 978-2-7430-1573-2
Titre de couverture : Ingénieurs, Masters
Langues : Français (fre)
Catégories : Analyse quantitative (chimie)
Chimie analytique
Échantillonnage
Plan d'expérienceIndex. décimale : 543 Chimie analytique Note de contenu : Index et bibliographie Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité L41678 543 DUC Livre HELHA Campus Mons Livres Disponible Mesure physique et instrumentation : Analyse statistique et spectrale des mesures, capteurs / Dominique Barchiesi
Titre : Mesure physique et instrumentation : Analyse statistique et spectrale des mesures, capteurs Type de document : texte imprimé Auteurs : Dominique Barchiesi Mention d'édition : 2e édition revue, corrigée et augmentée Editeur : Paris : Ellipses Année de publication : 2010 Collection : Technosup Importance : X, 222 p. Présentation : schémas et tableaux Format : 26 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-2-7298-5686-1 Langues : Français (fre) Catégories : Capteurs (technologie)
Échantillonnage
Incertitude de mesure
Mesure -- Instruments
VibrationsMots-clés : Analyse spectrale Index. décimale : 681.2 Capteurs et diagnostic des machines Mesure physique et instrumentation : Analyse statistique et spectrale des mesures, capteurs [texte imprimé] / Dominique Barchiesi . - 2e édition revue, corrigée et augmentée . - Paris : Ellipses, 2010 . - X, 222 p. : schémas et tableaux ; 26 cm. - (Technosup) .
ISBN : 978-2-7298-5686-1
Langues : Français (fre)
Catégories : Capteurs (technologie)
Échantillonnage
Incertitude de mesure
Mesure -- Instruments
VibrationsMots-clés : Analyse spectrale Index. décimale : 681.2 Capteurs et diagnostic des machines Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité L41977 681.2 BAR Livre HELHA Campus Mons Livres Disponible Statistique industrielle : Système de mesure, estimation, échantillonnage et maîtrise statistique des procédés / François Bergeret
Titre : Statistique industrielle : Système de mesure, estimation, échantillonnage et maîtrise statistique des procédés Type de document : texte imprimé Auteurs : François Bergeret ; Sabine Mercier Editeur : Paris : Dunod Année de publication : 2021 Collection : Technique et ingénierie Importance : XIII, 206 p. Présentation : schémas Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-2-10-081091-8 Langues : Français (fre) Catégories : Échantillonnage
Incertitude de mesure
Maîtrise statistique des processus
Statistique industrielleIndex. décimale : 519.2 Statistiques et probabilités dont Plan d'expérience Note de contenu : Bibliographie p. 201-204. - Index p. 205-206 Statistique industrielle : Système de mesure, estimation, échantillonnage et maîtrise statistique des procédés [texte imprimé] / François Bergeret ; Sabine Mercier . - Paris : Dunod, 2021 . - XIII, 206 p. : schémas ; 24 cm. - (Technique et ingénierie) .
ISBN : 978-2-10-081091-8
Langues : Français (fre)
Catégories : Échantillonnage
Incertitude de mesure
Maîtrise statistique des processus
Statistique industrielleIndex. décimale : 519.2 Statistiques et probabilités dont Plan d'expérience Note de contenu : Bibliographie p. 201-204. - Index p. 205-206 Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité L42592 519.2 BER Livre HELHA Campus Mons Livres Disponible