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Auteur Inès Gauthier

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Software development for control and analysis for on-wafer RF measurements / Inès Gauthier

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Titre : Software development for control and analysis for on-wafer RF measurements
Type de document : TFE / Mémoire
Auteurs : Inès Gauthier
Editeur : Mons : Haute Ecole Louvain en Hainaut - Catégorie technique -TL
Année de publication : 2016
Importance : 84 p.
Présentation : schémas
Format : 30 cm
Langues : Anglais (eng)
Catégories : Ondes radioélectriques
TFE catégorie technique:TFE TL Electronique

Note de contenu : Bibliographie p. 44-50

Software development for control and analysis for on-wafer RF measurements [TFE / Mémoire] / Inès Gauthier . - Mons : Haute Ecole Louvain en Hainaut - Catégorie technique -TL, 2016 . - 84 p. : schémas ; 30 cm.
Langues : Anglais (eng)
Catégories : Ondes radioélectriques
TFE catégorie technique:TFE TL Electronique

Note de contenu : Bibliographie p. 44-50

Exemplaires (1)

Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité
TL0379 15-16 El TFE HELHA Campus Mons TFE tech TL Disponible