La maîtrise statistique des processus ou SPC : Recueil de conférences / Cetim (Senlis)

Public ISBD Titre : La maîtrise statistique des processus ou SPC : Recueil de conférences Type de document : texte imprimé Auteurs : Cetim (Senlis), Editeur scientifique Editeur : Senlis : Centre technique des industries mécaniques (Cetim) Année de publication : 1992 Importance : 125 p. Format : 30 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-2-85400-237-9 Note générale : Textes des exposés présentés lors de la journée organisée par le CETIM le 20 novembre 1991, à Paris Langues : Français (fre) Catégories : Maîtrise statistique des processus Index. décimale : 621-049.3 Maintenance La maîtrise statistique des processus ou SPC : Recueil de conférences [texte imprimé] / Cetim (Senlis), Editeur scientifique . - Senlis : Centre technique des industries mécaniques (Cetim), 1992 . - 125 p. ; 30 cm. ISBN : 978-2-85400-237-9 Textes des exposés présentés lors de la journée organisée par le CETIM le 20 novembre 1991, à Paris Langues : Français (fre) Catégories : Maîtrise statistique des processus Index. décimale : 621-049.3 Maintenance

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Outil qualité : Maîtrise statistique des processus / R. Vincent

Public ISBD Titre : Outil qualité : Maîtrise statistique des processus Type de document : texte imprimé Auteurs : R. Vincent, Auteur ; J. Lasnier, Auteur ; M. Bodez, Auteur ; R. Rottier, Illustrateur Editeur : Senlis : Centre technique des industries mécaniques (Cetim) Année de publication : 1993 Collection : Cahiers Formation Importance : 138 p. Présentation : schémas Format : 30 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-2-85400-263-8 Langues : Français (fre) Catégories : Maîtrise statistique des processus Index. décimale : 621-049.3 Maintenance Note de contenu : Bibliographie Outil qualité : Maîtrise statistique des processus [texte imprimé] / R. Vincent, Auteur ; J. Lasnier, Auteur ; M. Bodez, Auteur ; R. Rottier, Illustrateur . - Senlis : Centre technique des industries mécaniques (Cetim), 1993 . - 138 p. : schémas ; 30 cm. - (Cahiers Formation) . ISBN : 978-2-85400-263-8 Langues : Français (fre) Catégories : Maîtrise statistique des processus Index. décimale : 621-049.3 Maintenance Note de contenu : Bibliographie

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Le SPC est-il encore adapté au suivi en temps réel des fabrications électroniques ? / Cédric Lardière in Mesures, 910 (Décembre 2018)

Public ISBD [article]  inMesures > 910 (Décembre 2018) . - p. 34-37 Titre : Le SPC est-il encore adapté au suivi en temps réel des fabrications électroniques ? Type de document : texte imprimé Auteurs : Cédric Lardière Année de publication : 2018 Article en page(s) : p. 34-37 Langues : Français (fre) Catégories : Composants électroniques -- Conception et construction Maîtrise statistique des processus Six sigma [article] Le SPC est-il encore adapté au suivi en temps réel des fabrications électroniques ? [texte imprimé] / Cédric Lardière . - 2018 . - p. 34-37. Langues : Français (fre) in Mesures > 910 (Décembre 2018) . - p. 34-37 Catégories : Composants électroniques -- Conception et construction Maîtrise statistique des processus Six sigma

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Statistical Process Control Demystified / Paul Keller

Public ISBD Titre : Statistical Process Control Demystified Type de document : texte imprimé Auteurs : Paul Keller, Auteur Editeur : McGraw-Hill Book Company Année de publication : 2011 Collection : Demystified : Hard stuff made easy Importance : xiv, 302 p. Présentation : tableaux Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-0-07-174249-8 Langues : Anglais (eng) Catégories : Maîtrise statistique des processus Index. décimale : 519.2 Statistiques et probabilités dont Plan d'expérience Note de contenu : Index et bibliographie Statistical Process Control Demystified [texte imprimé] / Paul Keller, Auteur . - [S.l.] : McGraw-Hill Book Company, 2011 . - xiv, 302 p. : tableaux ; 24 cm. - (Demystified : Hard stuff made easy) . ISBN : 978-0-07-174249-8 Langues : Anglais (eng) Catégories : Maîtrise statistique des processus Index. décimale : 519.2 Statistiques et probabilités dont Plan d'expérience Note de contenu : Index et bibliographie

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Statistique industrielle : Système de mesure, estimation, échantillonnage et maîtrise statistique des procédés / François Bergeret

Public ISBD Titre : Statistique industrielle : Système de mesure, estimation, échantillonnage et maîtrise statistique des procédés Type de document : texte imprimé Auteurs : François Bergeret ; Sabine Mercier Editeur : Paris : Dunod Année de publication : 2021 Collection : Technique et ingénierie Importance : XIII, 206 p. Présentation : schémas Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-2-10-081091-8 Langues : Français (fre) Catégories : Échantillonnage Incertitude de mesure Maîtrise statistique des processus Statistique industrielle Index. décimale : 519.2 Statistiques et probabilités dont Plan d'expérience Note de contenu : Bibliographie p. 201-204. - Index p. 205-206 Statistique industrielle : Système de mesure, estimation, échantillonnage et maîtrise statistique des procédés [texte imprimé] / François Bergeret ; Sabine Mercier . - Paris : Dunod, 2021 . - XIII, 206 p. : schémas ; 24 cm. - (Technique et ingénierie) . ISBN : 978-2-10-081091-8 Langues : Français (fre) Catégories : Échantillonnage Incertitude de mesure Maîtrise statistique des processus Statistique industrielle Index. décimale : 519.2 Statistiques et probabilités dont Plan d'expérience Note de contenu : Bibliographie p. 201-204. - Index p. 205-206

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